AEC-Q系列認證是車規(guī)級芯片的基本門檻。AEC QAEC汽車電子委員會，由美國三大汽車公（Chrysler / Ford / GM）聯(lián)合發(fā)起，并于1994年創(chuàng)立，會員分布于全球車廠、汽車電子和元器件廠商，為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標準而設立了汽車電子協(xié)會（AEC）。雖然不是強制性的認證制度，但目前已成為公認的車規(guī)元器件的通用測試標準，符合AEC-Q標準要求已成車規(guī)器件可靠性的重要判斷準則。
伴隨著汽車產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，國內(nèi)車電企業(yè)的份額有望持續(xù)提升。隨著燃油車向電動汽車需求的快速轉(zhuǎn)變，帶動車用元器件高速增長。與此同時，在芯片國產(chǎn)化的大背景下，隨著國內(nèi)車用元器件的興起，車用電子元器件對可靠性的要求也越來越高。作為車規(guī)器件可靠性的驗證門檻，AEC-Q系列可靠性驗證越來越受到關(guān)注。
車用電子主要依據(jù)國際汽車電子協(xié)會(Automotive Electronics Council，簡稱AEC)作為車規(guī)驗證標準，包括AEC-Q100(集成電路IC)、AEC-Q101(分離元器件)、AEC-Q102(離散光電元器件)、AEC-Q103(壓力傳感器/麥克風) 、AEC-Q104(多芯片模組)、AEC-Q200(被動元器件)。其測試條件雖然比消費型芯片規(guī)范嚴苛，但測試條件仍以JEDEC或MIL-STD為主，另外加入特殊規(guī)格，例如電磁兼容性(EMC)驗證。
AEC-Q100：
基于失效機理的車用集成電路應力測試認證
適用產(chǎn)品：控制類芯片、傳感器類芯片、存儲類芯片、電源管理類芯片等
AEC-Q101：
基于失效機理的車用分立半導體應力測試認證
適用產(chǎn)品：晶體管、晶閘管、整流器、MOSFET、IGBT等
AEC-Q102：
基于失效機理的光電半導體應力測試認證
適用產(chǎn)品：LED、Laser、Phototransistor、Photodiode
AEC-Q103：
基于失效機理的車用微機電系統(tǒng)（MEMS）應力測試認證
適用產(chǎn)品：MEMS壓力傳感器、MEMS麥克風
AEC-Q104：
基于失效機理的車用多芯片模塊（MCM）應力測試認證
適用產(chǎn)品：直接焊接到印刷電路板組件上的多芯片模組(MCM)
AEC-Q200：
基于失效機理的車用被動器件應力測試認證
適用產(chǎn)品：電阻器、電容器、電感器、濾波器、晶振等
1、AEC Q100——是基于失效機理的集成電路應力測試鑒定，由AEC委員會制定，適用于車用 IC 芯片的綜合可靠性測試認證標準，是芯片產(chǎn)品應用于汽車領(lǐng)域的基本門檻。
首版于1995年發(fā)行，并持續(xù)更新到2014年的 H 版本，也是目前沿用的標準。AEC Q100標準是芯片產(chǎn)品（依產(chǎn)品類型、封裝形貌及取樣數(shù)量的要求）執(zhí)行并通過的必要測試項目。
2、AEC Q101是基于失效機理的離散半導體元件應力測試鑒定，由AEC委員會制定，適用于車用離散半導體元件的綜合可靠性測試認證標準，是離散半導體元件應用于汽車領(lǐng)域的基本門檻。
首版于1996年發(fā)行，并持續(xù)更新到2021年的E版本，也是目前沿用的最 新標準。AEC Q101標準是離散半導體元件（依產(chǎn)品類型、封裝形貌及取樣數(shù)量的要求）執(zhí)行并通過的要測試項目。
3、AEC-Q102——AEC（汽車電子委員會）于2017年3月正式發(fā)表 AEC-Q102 REV 標準，此規(guī)范主要為離散光電組件產(chǎn)品進入車用市場制定的判斷標準，同時也是目前針對車用LED通用的國際標準。
其驗證包含實驗樣品數(shù)量的重新定義、LEDTj (Junction Temperature)控制的方式、氣體腐蝕的增加等，每項都是針車用 LED 所可能遭遇的環(huán)境來設計，以保護行車時的安全性。
LED光源在汽車的應用越來越廣，車燈照明、激光雷達、智能系統(tǒng)、盲點偵測等應用都需要高品質(zhì)的LED，也因此眾多 LED 元組件供貨商積極布局車用 LED 領(lǐng)域。但如何讓其LED產(chǎn)品在車電市場中占有一席之地，通過 AEC-Q102 驗證是最重要的通行證之一。
4、AEC Q103——是汽車電子委員會（AEC）根據(jù)車載MEMS特性制定出的檢測標準，由于之前MEMS微機電系統(tǒng)做車規(guī)認證一直是參照AEC-Q100，此次制定的標準無疑是為行業(yè)提供了更具針對性的要求，對于MEMS做車規(guī)級認證也更加合理。AEC Q103標準是車載MEMS元件（依產(chǎn)品類型、封裝形貌及取樣數(shù)量的要求）執(zhí)行并通過的必要測試項目，該測試要求0失效方可得到認可。
5、AEC-Q104——規(guī)范中，共分為A-H八大系列。其中，一大原則，在于MCM上使用的所有組件，包括電阻電容電感等被動組件、二極管離散組件、以及IC本身，在組合前若有通過AEC-Q100、AEC-Q101或AEC-Q200，MCM產(chǎn)品只需進行AEC-Q104H內(nèi)僅7項的測試，包括4項可靠性測試:TCT(溫度循環(huán))、Drop(落下)、LowTemperature Storage Life(LTSL)、Start Up &Temperature Steps(STEP)；以及3項失效類檢驗:X-Ray、Acoustic Microscopy(AM)、Destructive Physical(DPA)；若MCM上的組件未先通過AEC-Q100、AEC-Q101與AEC-Q200，那必須從AEC-Q104的A-H八大測項共49項目中，依據(jù)產(chǎn)品應用，決定驗證項目，驗證項目會變得比較多。
6、AEC Q200——2023年3月20日，AEC發(fā)布了最 新的無源元件測試認證標準：AEC - Q200 - Rev E：STRESS TEST QUALIFICATION FOR PASSIVE COMPONENTS。
新標準有兩大改變：
一、適用產(chǎn)品由原來的14種產(chǎn)品改為了16種產(chǎn)品，增加了鈮電容器、保險絲、超級電容器、微調(diào)電阻器等產(chǎn)品。
二、根據(jù)產(chǎn)品尺寸重新定義測試樣品數(shù)量，新標準按照<10cm3、10cm3≤x≤330cm3、＞330cm3三種規(guī)格確認測試樣品數(shù)量，尺寸越大需要的樣品數(shù)量越少，以溫度循環(huán)為例，產(chǎn)品規(guī)格<10cm3需要77個樣品，產(chǎn)品規(guī)格10cm3≤x≤330cm3需要26個樣品，產(chǎn)品規(guī)格＞330cm3僅需要10個樣品。
加速環(huán)境應力測試：
高加速應力測試（HAST）、溫度循環(huán)（TC）、功率溫度循環(huán)（PTC）、高溫存儲壽命（HTSL）
加速壽命測試：
高溫工作壽命（HTOL）、早期失效率（ELFR）、數(shù)據(jù)保持耐久（EDR）
封裝組裝可靠性驗證：
推拉力測試(Wire Bond Shear/Pull)、可焊性（SD）、物理尺寸量測（PD）、錫球剪切（SBS）、凸點推力(BST)
電氣特性測試：
靜電放電（ESD：HBM/CDM）、閂鎖（LU）、電磁兼容（EMC）、短路特性（SC）、無鉛（LF）
機械可靠性測試：
機械沖擊（MS）、變頻振動（VFV）、恒加速（CA）、跌落（DROP）、蓋板扭力（LT）、晶圓剪切（DS）、內(nèi)部水汽含量（IWV）、粗/細漏測試（GFL）
模組板級可靠性測試：
板級可靠性測試（BLR）、低溫存儲壽命（LTSL）、啟動和溫度步進（STEP）、破壞性分析（DPA）、X射線檢測（X-RAY）、超聲波掃描（AM）
AEC-Q100：適用于各類集成電路芯片；
AEC-Q101：適用于BJT、MOSFET、IGBT、Diodes、 Rectifier、Zeners、PIN、Varactors等分立器件；
AEC-Q102: 適用于LEDs、Optocoupler、Photodiodes、 Phototransistors等光器件；
AEC-Q103:適用于壓力傳感器、麥克風等MEMS器件；
AEC-Q104:適用于各類多芯片組件MCM；
AEC-Q200: 適用于各類電容器、電阻器、電感器、變壓器、 阻容?絡、保險絲等元件。
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